ARIS

Vers des Circuits et Applications Embarqués Robustes aux Radiations

 

De nombreuses défaillances des systèmes embarqués sont causées par des variations de l'environnement (température, pression, champ EM, etc.). En conditions sévères (haute altitude, espace, sites nucléaires...), les particules de haute énergie, en particulier les neutrons, sont une cause majeure d'erreur, pouvant provoquer des erreurs transitoires ("soft errors"), des pannes permanentes ou la destruction des composants. L'évaluation de la sensibilité aux radiations est donc une étape incountournable pour les composants et applications destinés à être embarqués en environnement sévère.

Les équipes du LSI vous accompagnent pour le test et l'amélioration de la robustesse de vos circuits intégrés.

 

Avantages

  • Une expertise reconnue en qualification de circuits intégrés et applications embarquées
  • Des méthodes et outils innovants de test de sensibilité aux radiations
  • Des solutions pour l'optimisation de robustesse

 

Offre

  • Protoypage du matériel au logiciel nécessaire aux tests
  • Injection de fautes à différents niveaux d'abstraction
  • Intervention sur tout type de composants complexes (mémoires ASIC, processeurs, convertisseurs,...)
  • Réalisation de test sous neutrons, ions lourds,...
  • Suivi en ligne des campagnes de mesures
  • Possibilité de test en environnement naturel (ballon, avion, haute-altitude)

 

Nos moyens

  • Une plateforme de test aux radiations pour déterminer la robustesse statique de vos composants
  • Des outils de simulation non-intrusifs et interactifs pour l'étude en ligne de la robustesse dynamique de vos applications dédiées
  • La complémentarité entre mesures statiques et dynamiques pour déterminer la robustesse effective de vos systèmes embarqués.

 

Domaines d'Application

  • Transports
  • Aérospatial
  • Télécommunications
  • Défense
  • Nucléaire
  • Biomédical

Nos Références

ATMEL, CNES, NASA, ESA, IROC Technologies, EADS

 

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